粉末sem检测 硅粉颗粒sem结构检测-ks8凯发官方网站

　　一. 实验目的与要求

　　1．了解扫描电子显微镜的基本结构

　　2．了解扫描电子显微镜的工作原理

　　3．学习扫描电子显微镜正确的操作方法

　　3．学习扫描电子显微镜样品制备技术

　　4．观察纺织品材料的sem形态结构

　　二. 实验内容

　　1．讲解扫描电子显微镜的基本结构

　　2．讲解扫描电子显微镜的工作原理

　　3．学习扫描电子显微镜正确的操作方法

　　3．学会扫描电子显微镜样品制备技术

　　4．观察纺织品材料的sem形态结构

　　三. 实验仪器设备和材料

　　1．dxs－1－a型扫描电子显微镜

　　2．哈氏切片器，

　　3．火绵胶

　　4．专用刀片

　　5．dm220镀膜机

　　6．纺织材料（细支羊毛，羊绒，丝织物，生丝，膜材料等）

　　四. 基础知识

　　扫描电镜采用的电子光学系统，并配以一系列先进的电子束对中、消像散、调焦等方面的技术。是直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像的。sem具有很高的分辨率。

　　扫描电镜的优点是，

　　①有较高的放大倍数，连续可调；

　　②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样表面的细微结构；

　　③试样制备简，如果配有x射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析，因此它是当今应用很广的科学研究仪器。

　　扫描电子显微镜的工作原理

　　扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。电子枪发射的电子，经聚光镜及物镜的作用形成具有一定能量和束斑直径的电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面作栅网式扫描。电子束与试样作用，产生二次电子发射，二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。